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b)VGTC阵列的SEM图像
b)VGTC阵列的SEM图像
时间:
2025-05-17 09:26:00来源:
当家作主网
作者:
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通过密度泛函理论计算和原位同步辐射XRD技术表明Cr
3+
掺杂可以使得TNO具有更快的离子传输路径和增强了结构稳定性 。Cr-TNO @ VGTC具有优异的高功率特性,在40 C下的大电流密度下具有220 mAh g
-1
的高可逆容量(功率密度约为11 kW kg
-1
)和稳定的循环性能(500次循环后容量保持率为91%)。
(e)10C电流密度下的的长循环性能